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ENCICLOPÉDIA DE RÁDIO ELETRÔNICA E ENGENHARIA ELÉTRICA Testador de diodos e transistores bipolares. Enciclopédia de rádio eletrônica e engenharia elétrica
Enciclopédia de eletrônica de rádio e engenharia elétrica / Tecnologia de medição A maioria dos testadores modernos (multímetros) possui funções integradas para testar diodos e, às vezes, transistores. Mas se o seu testador não tiver essas funções, você poderá montar um testador de diodo e transistor com suas próprias mãos. Abaixo está um projeto de teste baseado no microcontrolador PIC16F688. A lógica para testar diodos é muito simples. Um diodo é uma junção PN que é conhecida por conduzir corrente apenas em uma direção. Portanto, um diodo de trabalho conduzirá a corrente em uma direção. Se o diodo conduzir corrente em ambas as direções, o diodo estará inoperante - quebrado. Se o diodo não conduzir em nenhuma direção, o diodo também não está funcionando. A implementação do circuito desta lógica é mostrada abaixo.
Essa lógica pode ser facilmente adaptada para um teste de transistor bipolar que contém duas junções PN: uma entre base e emissor (junção BE) e outra entre base e coletor (junção BC). Se ambas as junções conduzirem corrente em apenas uma direção, o transistor está funcionando, caso contrário, não está funcionando. Também podemos identificar o tipo de transistor pnp ou npn determinando a direção da condução da corrente. Para testar transistores, o microcontrolador usa 3 entradas/saídas
Sequência de teste do transistor: 1. Ligue a saída (definida como um) D2 e leia D1 e D3. Se houver uma unidade lógica em D1, a junção BE conduz corrente, caso contrário, não. Se D3 for 1, então o BC conduz corrente, caso contrário, não.
Além disso, se BE e BC conduzirem corrente, o transistor é do tipo npn e está funcionando. Se, no entanto, EB e CB conduzem corrente, o transistor do tipo pnp também está funcionando. Em todos os outros casos (por exemplo, EB e BE conduzem corrente, ou ambas as transições de BC e CB não conduzem, etc.), o transistor está em um estado não operacional. Diagrama esquemático do testador de diodo e transistor e descrição
O circuito do testador é muito simples. O dispositivo possui 2 botões de controle: Select (seleção) e Detail (mais). Ao pressionar o botão Select, o tipo de teste é selecionado: teste de diodo ou transistor. O botão Detail funciona apenas no modo de teste do transistor, a tela LCD mostra o tipo de transistor (npn ou pnp) e o estado de condução das junções do transistor. As três pernas do transistor em teste (emissor, coletor e base) são conectadas ao terra através de um resistor de 1 kΩ. Para teste, são utilizados os pinos RA0, RA1 e RA2 do microcontrolador PIC16F688. Para testar o diodo, apenas duas saídas são usadas: E e K (marcadas D1 e D2 no diagrama).
Programa O software para este projeto é escrito usando o compilador MikroC. Durante os testes e programação, tome cuidado e siga as configurações das entradas/saídas do MK (RA0, RA1 e RA2). eles geralmente mudam durante a operação. Antes de definir qualquer saída para 1, certifique-se de que as outras duas E/Ss do MCU estejam definidas como entradas. Caso contrário, são possíveis conflitos de entradas/saídas do MK.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Autor: Koltykov A.V.; Publicação: cxem.net
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