Menu English Ukrainian Russo Início

Biblioteca técnica gratuita para amadores e profissionais Biblioteca técnica gratuita


ENCICLOPÉDIA DE RÁDIO ELETRÔNICA E ENGENHARIA ELÉTRICA
Biblioteca gratuita / Esquemas de dispositivos radioeletrônicos e elétricos

Acessório NWT para testar circuitos LC. Enciclopédia de rádio eletrônica e engenharia elétrica

Biblioteca técnica gratuita

Enciclopédia de eletrônica de rádio e engenharia elétrica / Tecnologia de medição

Comentários do artigo Comentários do artigo

Os medidores de características de amplitude-frequência NWT são amplamente utilizados entre rádios amadores. O desejo de aumentar a precisão da medição do fator de qualidade dos circuitos com sua ajuda (em comparação com as soluções de circuitos mais simples) me levou à ideia de fazer um anexo ao NWT na forma de uma sonda compacta. Além disso, é possível medir com precisão suficientemente alta a frequência de ressonância, o fator de qualidade e a resposta em frequência dos circuitos - tanto separadamente quanto instalados diretamente nas estruturas. Claro que, neste caso, é necessário garantir que a tensão do sinal no circuito em estudo não ultrapasse o nível de -20 dB no gráfico de resposta em frequência, para que as junções pn do silício não se abram.

A aparência da sonda é mostrada na Fig. 1, e seu diagrama está na Fig. 2. Um amplificador buffer de alta impedância com resistência de entrada de 1 MOhm e capacitância de entrada de aproximadamente 2 pF é montado usando os transistores VT1, VT3. O uso de tal sonda e os recursos de design são descritos com detalhes suficientes no artigo de B. Stepanov “Um indicador de ressonância simples”, publicado na coleção “Radio Yearbook 1985”. Comparada ao dispositivo ali descrito, a versão proposta da sonda possui melhores características. A utilização de um detector NWT mais sensível permitiu reduzir significativamente (quase quatro vezes) a capacitância dos capacitores de acoplamento, o que reduziu significativamente a influência dos circuitos de medição no fator de qualidade do circuito em estudo. Graças a isso, o erro na medição do fator de qualidade do circuito (até 400...500) não ultrapassa 5...10% em frequências de centenas de quilohertz a 30 MHz. A sonda é conectada ao circuito LC em estudo, por exemplo, por meio de pinças jacaré (ver Fig. 1).

Anexo ao NWT para testar circuitos LC
Arroz. 1. Aparência da sonda

Anexo ao NWT para testar circuitos LC
Arroz. 2. Diagrama da sonda

A capacitância de entrada de tal sonda pode ser de cerca de 2 pF, mas na prática, em tais valores, a capacitância parasita da instalação já a afeta visivelmente. A alta impedância de entrada da ponta de prova do testador exigia sua blindagem. Na Fig. 3 mostra que sem tela externa, em certos níveis baixos, aparece ruído na resposta de frequência. A instalação da sonda na caixa de blindagem remove quase completamente a interferência e melhora o desacoplamento de entrada-saída, mas ao mesmo tempo a capacitância de entrada aumenta para 4,9...5 pF. Com os contatos de entrada da sonda fechados, o isolamento será de pelo menos 62 dB na frequência de 20 MHz.

Anexo ao NWT para testar circuitos LC
Arroz. 3. Gráfico de resposta de frequência

Para aumentar a precisão da medição da frequência de ressonância real dos circuitos f (isto é importante, por exemplo, ao verificar ou ajustar o emparelhamento dos circuitos), é necessário introduzir uma correção de acordo com a fórmula dada no artigo de B. Stepanov , apenas em vez do número 3,5, substitua o número 2,5 nele. Para esta sonda é assim:

f = fр(1+2,5/C),

onde fp - valor medido da frequência ressonante do circuito; C é a capacitância do capacitor do circuito em picofarads.

Uma foto do desenho da sonda é mostrada na Fig. 4. Para excluir a penetração direta do sinal, contornando o circuito em teste, na entrada do detector, é utilizada fibra de vidro revestida com folha dupla-face e a instalação é realizada em “pontos” em ambos os lados da placa.

Anexo ao NWT para testar circuitos LC
Arroz. 4. Projeto da sonda

Ambos os lados do fio blindado comum são conectados entre si por jumpers em quatro a cinco lugares (uniformemente em toda a área da placa). Os pontos de conexão dos capacitores de acoplamento são espaçados - a entrada da ponta de prova de alta impedância fica de um lado e no lado oposto da placa há uma blindagem sólida (“terra”). O ponto de solda do resistor de carga da saída NWT R1 está localizado no outro lado da placa, e do lado oposto há uma blindagem sólida (“terra”). Uma fina tela de chapa metálica é instalada entre os capacitores de acoplamento em quase todo o seu comprimento. Ele é soldado à placa e coberto com fita isolante preta. Ao repetir o design, em vez desta tela adicional, recomendo simplesmente deixar a placa 10...15 mm mais longa.

O estágio de saída de alta corrente do amplificador buffer de alta impedância da ponta de prova (aproximadamente 30 mA) fornece uma amplitude de sinal de saída de até 1,4 V em uma carga de baixa impedância (50 ohms). Isto permite que a faixa dinâmica máxima do detector NWT seja alcançada. A configuração do amplificador se resume à instalação de uma tensão constante de +2...4 V no coletor do transistor VT5. Isso é conseguido selecionando o resistor R3. A corrente consumida pela sonda da fonte de alimentação é de cerca de 40 mA.

A carga real no circuito é criada por um gerador NWT com resistência de saída de 50 Ohm e um resistor de carga R1 com resistência de 51 Ohm conectado em paralelo a ele (no final - cerca de 25 Ohm). Eles são conectados ao circuito em teste através de um capacitor de acoplamento C1 com capacidade de 1 pF.

O grau de influência deste circuito no fator de qualidade do circuito pode ser avaliado usando as fórmulas fornecidas no artigo de B. Stepanov. Quem quiser pode consultar, por exemplo, o livro “Fundamentals of Circuit Theory” de V. Popov (Moscou: Escola Superior, 1985), mas as fórmulas ali fornecidas são um tanto difíceis de analisar e compreender o significado físico do que está acontecendo.

Será mais fácil entender a essência do que está acontecendo se usarmos o conceito de resistência à perda. Resistência total à perda de loop Rп pode ser determinado pela fórmula

Rп=XL/Qн,

onde XL - resistência indutiva de sua bobina; Qн - sua boa qualidade.

Resistência à perda do circuito carregado Rп igual à soma das resistências das próprias perdas do circuito descarregado Rк e perdas introduzidas pela carga Rн. Este último para o nosso caso de ligar a resistência da fonte de sinal de baixa resistência Rist através do divisor de corrente capacitivo é igual a

Rн = Rist (COMSt./(A PARTIR DEкvh))2.

Se a capacidade de contorno Cк significativamente maior que a capacitância de entrada Cvh, esta fórmula simplifica para

Rн = Rist (COMSt./A PARTIR DEк)2,

A resistência introduzida no circuito diminui proporcionalmente ao quadrado da razão entre as capacitâncias do acoplamento e dos capacitores do circuito.


Arroz. 5. Gráfico de resposta de frequência

Consideremos um exemplo real de medição dos parâmetros de um circuito oscilatório, que consiste em um indutor de alta qualidade enrolado em um anel T50-6 da Amidon e um capacitor com capacidade de 38 pF.

1. Capacidade total do circuito

Сm = Cкvh\u43d XNUMX pF.

2. Usando o gráfico de resposta de frequência (Fig. 5), determinamos a frequência de ressonância f=18,189 MHz e o fator de qualidade Qн=237,76 (embora fracamente, mas ainda um circuito carregado).

3. Vá para a guia “Cálculos de Engenharia de Rádio” do programa NWT, insira a capacitância do circuito e sua frequência de ressonância nas células da tabela e encontre a indutância da bobina L = 1,78 μH. Sua reatância indutiva XL= = 203,5 Ohms.

Assim, a resistência à perda do circuito carregado, calculada pela fórmula Rп = XL/Qн será 0,86 Ohm. A resistência à perda introduzida pela carga, a fonte do sinal, é encontrada usando a fórmula

Rн = Rist (COMSt./(A PARTIR DEкvh))2.

Substituindo nele os valores conhecidos dos parâmetros dos elementos, obtemos o valor Rн=0,0135Ohm. A partir daqui encontramos a resistência à perda do próprio circuito descarregado Rк=0,847 Ohm e o fator de qualidade do circuito sem carga Qк= 240.

O valor medido diretamente do fator de qualidade, sem esses recálculos esclarecedores, é igual a 237,76. Como podemos ver, o erro de medição devido à influência de uma fonte de sinal de baixa resistência em nosso dispositivo é insignificante e será menor quanto maior for a capacitância do circuito ou quanto maior for sua impedância característica.

Autor: Sergey Belenetsky (US5MSQ)

Veja outros artigos seção Tecnologia de medição.

Leia e escreva útil comentários sobre este artigo.

<< Voltar

Últimas notícias de ciência e tecnologia, nova eletrônica:

O ruído do trânsito atrasa o crescimento dos pintinhos 06.05.2024

Os sons que nos rodeiam nas cidades modernas estão a tornar-se cada vez mais penetrantes. No entanto, poucas pessoas pensam em como esse ruído afeta o mundo animal, especialmente criaturas delicadas como os filhotes que ainda não nasceram dos ovos. Pesquisas recentes estão lançando luz sobre esta questão, indicando sérias consequências para o seu desenvolvimento e sobrevivência. Os cientistas descobriram que a exposição de filhotes de zebra-diamante ao ruído do tráfego pode causar sérias perturbações ao seu desenvolvimento. Experimentos mostraram que a poluição sonora pode atrasar significativamente a eclosão, e os pintinhos que emergem enfrentam uma série de problemas que promovem a saúde. Os pesquisadores também descobriram que os efeitos negativos da poluição sonora se estendem às aves adultas. As probabilidades reduzidas de reprodução e a fertilidade reduzida indicam os efeitos a longo prazo que o ruído do tráfego tem sobre a vida selvagem. Os resultados do estudo destacam a necessidade ... >>

Alto-falante sem fio Samsung Music Frame HW-LS60D 06.05.2024

No mundo da tecnologia de áudio moderna, os fabricantes buscam não apenas uma qualidade de som impecável, mas também uma combinação de funcionalidade com estética. Um dos mais recentes passos inovadores nesta direção é o novo sistema de alto-falantes sem fio Samsung Music Frame HW-LS60D, apresentado no evento 2024 World of Samsung. O Samsung HW-LS60D é mais do que apenas um sistema de alto-falantes, é a arte do som estilo quadro. A combinação de um sistema de 6 alto-falantes com suporte Dolby Atmos e um design elegante de moldura fotográfica torna este produto o complemento perfeito para qualquer interior. O novo Samsung Music Frame apresenta tecnologias avançadas, incluindo Áudio Adaptativo, que oferece diálogos claros em qualquer nível de volume, e otimização automática da sala para uma reprodução de áudio rica. Com suporte para conexões Spotify, Tidal Hi-Fi e Bluetooth 5.2, bem como integração de assistente inteligente, este alto-falante está pronto para satisfazer seu ... >>

Uma nova maneira de controlar e manipular sinais ópticos 05.05.2024

O mundo moderno da ciência e da tecnologia está se desenvolvendo rapidamente e todos os dias surgem novos métodos e tecnologias que nos abrem novas perspectivas em vários campos. Uma dessas inovações é o desenvolvimento, por cientistas alemães, de uma nova forma de controlar sinais ópticos, que poderá levar a progressos significativos no campo da fotónica. Pesquisas recentes permitiram que cientistas alemães criassem uma placa de ondas sintonizável dentro de um guia de ondas de sílica fundida. Este método, baseado no uso de uma camada de cristal líquido, permite alterar efetivamente a polarização da luz que passa por um guia de ondas. Este avanço tecnológico abre novas perspectivas para o desenvolvimento de dispositivos fotônicos compactos e eficientes, capazes de processar grandes volumes de dados. O controle eletro-óptico da polarização fornecido pelo novo método poderia fornecer a base para uma nova classe de dispositivos fotônicos integrados. Isto abre grandes oportunidades para ... >>

Notícias aleatórias do Arquivo

Combatendo o calor com telhados frios 20.08.2019

Para reduzir o impacto do calor anormal nas pessoas, os cientistas propõem a instalação de telhados "frios". O estudo foi conduzido por cientistas do Laboratório Nacional Lawrence Berkeley do Departamento de Energia dos EUA.

Telhados "frios" oferecem equipamentos nas áreas mais densamente povoadas da Califórnia - San Francisco, Los Angeles, San Diego e Sacramento.

"Se pudermos resfriar um pouco essas áreas, isso poderá ter um enorme impacto na saúde e anular os efeitos significativos das mudanças climáticas. Até 2050, isso ajudará a reduzir o impacto das ondas de calor nas pessoas", dizem os cientistas.

Estudos mostraram que ondas de calor acima de 35° e com duração de pelo menos três dias se tornarão 2 a 10 vezes mais frequentes no futuro.

O segundo objetivo do estudo foi analisar a eficácia do uso dessas coberturas para mitigar os efeitos das ondas de calor. Para fazer isso, a equipe de pesquisa simulou o clima do futuro substituindo todos os telhados existentes por telhados "frios". Como resultado, os cientistas descobriram que a instalação de tais telhados ajudará a reduzir o número anual de casos de exposição a ondas de calor na Califórnia de 80 milhões para 45 milhões.

Outras notícias interessantes:

▪ Xiaomi Mi PTZ Camera para hoverboard

▪ chip superfrio

▪ Ouro super forte descoberto

▪ SSDs HGST Ultrastar SN200 NVMe e SS200 SAS

▪ Amônia de cerveja e boro

Feed de notícias de ciência e tecnologia, nova eletrônica

 

Materiais interessantes da Biblioteca Técnica Gratuita:

▪ seção do site Parâmetros de componentes de rádio. Seleção de artigos

▪ artigo Salto ministerial. expressão popular

▪ artigo Qual foi a maldição de Tutancâmon? Resposta detalhada

▪ artigo Aceitação e expedição de leite. Instrução padrão sobre proteção do trabalho

▪ artigo Fonte de alimentação econômica do contador Geiger. Enciclopédia de rádio eletrônica e engenharia elétrica

▪ artigo Medidor de intensidade de campo. Enciclopédia de rádio eletrônica e engenharia elétrica

Deixe seu comentário neste artigo:

Имя:


E-mail opcional):


Comentário:





Todos os idiomas desta página

Página principal | Biblioteca | Artigos | Mapa do Site | Revisões do site

www.diagrama.com.ua

www.diagrama.com.ua
2000-2024